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“以目前的实验设备精度，通俗地来说，要通过直接观测，找到宇宙中最黑的点，确实是不可能的。因为哪怕把焦距拉到最远，被采光积分的孔径还是太大了，会把暗处的干扰源的辐射也纳入进来。
所以，在《东海大学学报》上的这篇介绍实验方法的论文中，我特地论述了‘差分测量法’这一专门用于低精度仪器测量背景辐射的方法。
我的具体做法是这样的我通过外设的机械增级法，把天文热像积分仪的单次最小扭转角度，再提升一到两个数量级——
这个具体很好理解，观众朋友们可以看示意图，就像是螺旋测微器或者其他测距仪使用时，加几级齿轮分度盘就行。在各大天文台，都是有这样现成的机械附加装置可以租用的。
有了这个东西之后，我可以把每一次微调镜头时，移动的最小角度，变得比仪器预设最小角度，还小几十倍。
这种时候，当我要测其中一个比最小积分孔径还小很多的宇域辐射时，该怎么做呢？很简单，我测得一个宇域的总辐射后，把瞄准方向向上调整20分之一的原最小单位，重新测量一次。
把前后两次测得的数据相减，就是第一幅积分面最下面一行的辐射、与第二幅积分面最上面一行的辐射，之间的差值——因为其他19行，前后两张辐射积分图是一模一样的。
同理，我要确认左右差异的时候，也可以把感光孔往右偏移最小精度20分之一的物理角度，然后前后两次观测相减，算出第一幅第一行与第二幅最后一行之间的差值。
如此，我们只要重复试验400次，就能把精度提高20倍。具体来说，就是用时间换精度，用平方倍的测试次数，换取精度的提升。
加上我运气又特别好，在进行其他观测的时候无意间发现了一个低于现有国际公布值的微波背景辐射值，所以我成功了。”
